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PCI共光路干涉弱吸收儀

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產(chǎn)品簡介

PCI弱吸收儀特點(diǎn)：精度高: 1 ppm；一次測量可以區(qū)分體、面吸收；掃描速度快（幾分鐘）；對(duì)樣品規(guī)格要求不高；操作方便、簡單。

詳細(xì)介紹

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測量原理

右圖，Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強(qiáng)激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波，從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應(yīng)，當(dāng)一束Probe beam(探測光)經(jīng)過熱透鏡效應(yīng)區(qū)域與pump光相交時(shí)，探測光在該焦點(diǎn)處波前發(fā)生畸變引起點(diǎn)衍射共路干涉，并產(chǎn)生周期性相位畸變信號(hào)。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號(hào)處理，最后由軟件計(jì)算顯示出待測樣品的吸收值。

PCI弱吸收儀特點(diǎn)：

精度高: 1 ppm；
一次測量可以區(qū)分體、面吸收；
掃描速度快（幾分鐘）；
對(duì)樣品規(guī)格要求不高；
操作方便、簡單。

PCI弱吸收儀應(yīng)用領(lǐng)域：

光學(xué)薄膜
光學(xué)晶體材料
光學(xué)鏡片

PCI弱吸收儀性能

測量晶體（LBO、YVO4、KTP…）或光學(xué)產(chǎn)品（K9、BK7、UVFS…）內(nèi)部材料的弱吸收（體吸收）
測量晶體或光學(xué)產(chǎn)品的表面吸收或薄膜吸收

PCI 指標(biāo)說明

波長	常規(guī)355、532、1064nm，其它波長可定制
靈敏度	體吸收:1ppm/cm；面吸收:1ppm
樣品規(guī)格	方形、圓形均可最小尺寸（mm）：3x3x3；尺寸（mm）：50x50x50 其它尺寸可定制
測試速度	常規(guī)2min/片（相對(duì)6mm厚度）
區(qū)分體、面吸收	一次測量可以區(qū)分體、面吸收
軟件掃描功能	AbMat-1D: 一維逐點(diǎn)掃描 AbMat-2D: 二維吸收立體掃描
掃描方式	長度/面/時(shí)間掃描

PCI 配置說明

1.光源	Probe光源 632nmHe-Ne 激光器（） -功率：2mw -功率穩(wěn)定性：<0.1% -發(fā)散角：1.3mrad -偏振比：500:1 Pump光源 #1064nm 光纖激光器 -平均功率： 20W（CW） -光束質(zhì)量M2：<1.5 -功率穩(wěn)定性：＜2%(超過5 小時(shí)) -偏振：隨機(jī) -制冷方式：風(fēng)冷 -偏振光系統(tǒng)
2.探測部分	含鎖相放大器、光斬波器、探測器、功率計(jì)、二維調(diào)整架等。
3.載物臺(tái)部分	含三維步進(jìn)電機(jī)、樣品支架等
4.光學(xué)元件部分	反射鏡、透鏡、功率調(diào)節(jié)器等
5.軟件部分	實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)采集，自動(dòng)保存，數(shù)據(jù)分析等。一維逐點(diǎn)掃描二維吸收立體掃描
6.其它說明	建議設(shè)備安裝在超凈間環(huán)境；建議配UPS電源。