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Dimension XR原子力顯微鏡 AFM

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DimensionXR原子力顯微鏡納米力學(xué)、納米電學(xué)和納米電化學(xué)研究的解決方案 DimensionXR: 布魯克的DimensionXR掃描探針顯微鏡（SPM）系統(tǒng)攘括了原子力顯微鏡數(shù)十年來的研究和技術(shù)創(chuàng)新

詳細(xì)介紹

Dimension XR 原子力顯微鏡

納米力學(xué)、納米電學(xué)和納米電化學(xué)研究的解決方案

Dimension XR:

布魯克的Dimension XR掃描探針顯微鏡（SPM）系統(tǒng)攘括了原子力顯微鏡數(shù)十年來的研究和技術(shù)創(chuàng)新。通過常規(guī)的真原子相分辨率，以及一系列的技術(shù)，包括峰值力輕敲模式、數(shù)據(jù)立方體模式、SECM和AFM-nDMA，Dimesnion XR系統(tǒng)可提供的性能和功能。Dimension XR 系列將這些技術(shù)整合提供完整的解決方案，以滿足納米力學(xué)、納米電氣和納米電化學(xué)應(yīng)用的需求。在空氣、流體、電氣或化學(xué)反應(yīng)環(huán)境中對(duì)材料和納米尺度系統(tǒng)的定量研究從未如此簡(jiǎn)單。

高光譜成像

納米電學(xué)表征

包括用于功能材料、半導(dǎo)體和能源研究表征的最完整的電學(xué) AFM 技術(shù)。

納米級(jí)分辨

電化學(xué)成像

提供納米尺度下電池、燃料電池和腐蝕相關(guān)的局部電化學(xué)活性定量分析的分辨率的成套解決方案。

易用性

納米力學(xué)分析

提供定量的整套解決方案，用于材料的結(jié)構(gòu)和納米力學(xué)性能表征。

以性能支持首和的 AFM 功能

針對(duì)高級(jí)研究的優(yōu)化配置

XR納米力學(xué)

XR納米力學(xué)提供一系列高級(jí)應(yīng)用模式，其亞分子分辨率單可實(shí)現(xiàn)聚合物鏈的最小結(jié)構(gòu)基元的全面研究。研究人員將納米力學(xué)數(shù)據(jù)與宏觀尺度動(dòng)態(tài)力學(xué)分析和納米壓痕研究與布魯克專有的AFM-nDMA™模式關(guān)聯(lián)。從軟粘性水凝膠和復(fù)合材料到硬質(zhì)金屬和陶瓷，都實(shí)現(xiàn)可定量的納米尺度表征。

XR納米電學(xué)

Dimension XR的納米電學(xué)套裝涵蓋了泛的AFM電學(xué)技術(shù)。研究人員利用專有的 DataCube 模式，能捕獲每個(gè)像素點(diǎn)的電學(xué)信息，并于力學(xué)性能表征結(jié)果相關(guān)聯(lián)，從而提供了過去單個(gè)測(cè)量條件下無法獲得的信息。

XR納米電化學(xué)

Dimension XR納米電化學(xué)配置可實(shí)現(xiàn)基于 AFM的穩(wěn)定的掃描電化學(xué)顯微鏡（AFM-SECM）和電化學(xué) AFM（EC-AFM）功能。研究者在這套系統(tǒng)中可同時(shí)采集材料的納米級(jí)電化學(xué)、電學(xué)和力學(xué)性能。

所有模式、所有環(huán)境的分辨率:

無論是在液體環(huán)境中獲得樣品真原子相，還是在空氣中獲得樣品模量和導(dǎo)電性的原子級(jí)分辨率分布，Dimension XR系統(tǒng)在所有測(cè)量中都能提供的分辨率。它們使用布魯克專有的峰值力輕敲技術(shù)在各種軟硬樣品上的性能表征已成為，包括聚合物中的分子缺陷或晶體中的缺陷。同樣技術(shù)也被用來分辨粗糙玻璃上的精細(xì)起伏結(jié)構(gòu)，且具有驚人的穩(wěn)定性，在數(shù)百次掃描后還能保持最初的分辨率。Dimension XR系統(tǒng)將峰值力輕敲模式與穩(wěn)定性、的探針技術(shù)和布魯克數(shù)十年的針尖掃描創(chuàng)新經(jīng)驗(yàn)相結(jié)合，在各種尺寸、重量或介質(zhì)的樣品上，在任何應(yīng)用中都實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的分辨率成像。

革命性 AFM -nDMA

AFM 可以在納米尺度上研究聚合物樣品在流變性相關(guān)頻率線性區(qū)域的性能，提供完整的定量粘彈性分析。專有的雙通道檢測(cè)、相位漂移校正和參考頻率追蹤技術(shù)在流變相關(guān)的0.1 Hz至20 kHz頻率范圍內(nèi)進(jìn)行小應(yīng)變測(cè)量，獲得與宏觀DMA分析相符的存儲(chǔ)模量、損耗模數(shù)和損耗角正切值等性質(zhì)。

四組分聚合物（COC、PE、LLDPE、彈性體）的高分辨率存儲(chǔ)模量圖（左）和相應(yīng)點(diǎn)（右）采集的存儲(chǔ)模量頻譜。

專有的數(shù)據(jù)立方體模式:

這些模式利用快速力陣列模式在每個(gè)像素點(diǎn)中執(zhí)行力曲線測(cè)量，并具有用戶定義的停留時(shí)間數(shù)據(jù)采集。使用高速數(shù)據(jù)捕獲功能，在停留期間執(zhí)行多種電學(xué)測(cè)量，從而在每個(gè)像素上產(chǎn)生電學(xué)和力學(xué)譜。數(shù)據(jù)立方體模式在單次測(cè)量中提供完整的表征，這在商用AFM中是的。

的峰值力掃描電化學(xué)顯微鏡:

具有納米級(jí)空間分辨率的峰值力輕敲掃描探針顯微鏡重新定義了液體中納米尺度下電化學(xué)過程表征。峰值力輕敲掃描探針電化學(xué)顯微鏡在數(shù)量級(jí)上顯著改善了與傳統(tǒng)方法的分辨率。這使得對(duì)能源存儲(chǔ)系統(tǒng)、腐蝕科學(xué)和生物傳感器的更全新研究，為單個(gè)納米粒子、納米相和納米孔進(jìn)行新測(cè)量打開了大門。只有峰值力輕敲掃描探針電化學(xué)顯微鏡能同時(shí)形貌、電化學(xué)、電學(xué)和力學(xué)分布圖，并具有納米尺度的橫向分辨率。

（A）布魯克預(yù)裝的峰值力輕敲掃描電化學(xué)顯微鏡探針提供了簡(jiǎn)單、安全的操控性，的穩(wěn)定性，在數(shù)小時(shí)成像和多次使用-清潔循環(huán)中都能保持分辨率。（B）探針的掃描電鏡圖像;（C）使用COMSOL模擬的在10mM[Ru(NH3)6]3溶液中的針尖電化學(xué)電流分布；（D）從 50 次連續(xù)掃描中挑選的第 1、25 和 50 次循環(huán)伏安掃描譜，掃描速率為20 mV/s;（E）長(zhǎng)達(dá)2小時(shí)的恒流測(cè)試，以Ag/AgCl為參比電極。（F）模擬（虛線）和實(shí)驗(yàn)（實(shí)線）獲得的接近曲線。C和E圖像由加州理工的C. Xiang和 Y. Chen提供。